
如何判斷納米位移臺(tái)是否出現(xiàn)故障?
判斷納米位移臺(tái)是否出現(xiàn)故障,可以從運(yùn)動(dòng)表現(xiàn)、控制系統(tǒng)反饋、聲音和環(huán)境條件等多個(gè)方面綜合判斷:
1. 運(yùn)動(dòng)表現(xiàn)異常
不移動(dòng)或卡頓:輸入位移指令后,平臺(tái)不動(dòng)或只能斷斷續(xù)續(xù)移動(dòng)。
抖動(dòng)或跳動(dòng):在平穩(wěn)運(yùn)動(dòng)時(shí)出現(xiàn)振動(dòng)、抖動(dòng)或突然跳位。
重復(fù)定位誤差增加:同一位置反復(fù)運(yùn)動(dòng)后,無(wú)法回到原點(diǎn)。
運(yùn)動(dòng)速度異常:比設(shè)定速度慢或者速度不均勻。
2. 控制系統(tǒng)報(bào)警
錯(cuò)誤提示或報(bào)警信息:如“過(guò)載”“驅(qū)動(dòng)異?!薄巴ㄐ胖袛唷钡?。
無(wú)法接收指令:控制軟件或硬件反饋異常信號(hào)。
3. 聲音和溫度
異響:摩擦聲、撞擊聲或電機(jī)嗡鳴聲異常。
驅(qū)動(dòng)器過(guò)熱:溫度明顯高于平常,持續(xù)高溫可能提示內(nèi)部負(fù)載過(guò)大或散熱不良。
4. 機(jī)械檢查
導(dǎo)軌或絲桿磨損:運(yùn)動(dòng)不順暢,伴隨異響。
固定件松動(dòng):平臺(tái)晃動(dòng)或偏心。
5. 數(shù)據(jù)或?qū)嶒?yàn)異常
掃描精度下降:在掃描實(shí)驗(yàn)中出現(xiàn)重復(fù)漂移或定位誤差增大。
實(shí)驗(yàn)結(jié)果不穩(wěn)定:數(shù)據(jù)波動(dòng)異常,可能由平臺(tái)微動(dòng)或振動(dòng)引起。